返回首頁
在線訂單
聯系我們
技術文章
當前位置：首頁 > 技術文章
Niton 分析儀X 射線熒光技術信息
點擊次數：205 更新時間：2025-07-04
Niton 分析儀依托前沿的能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術，構建起一套完整且智能的元素分析生態系統。該技術以物理學中的光電效應和特征 X 射線理論為基石，當儀器發射的高能初級 X 射線束精準轟擊樣品表面時，元素原子內層電子因獲得足夠能量被激發產生空穴，外層電子隨即躍遷填補，在此過程中釋放出具有 "指紋" 特征的 X 射線熒光。
儀器配備的高分辨率硅漂移探測器（SDD）采用半導體材料制成，具備納米級的能量分辨率和超快響應速度，能夠精準捕捉這些微弱的能量信號。在 Axon 技術平臺的加持下，通過智能算法對原始數據進行實時降噪處理，利用機器學習模型對復雜光譜進行解卷積分析，從而有效消除元素譜線重疊干擾
